• XTrace-基于SEM高性能微區熒光光譜儀

    XTrace-基于SEM高性能微區熒光光譜儀采用了X射線(xiàn)毛細導管技術(shù),利用該技術(shù),即使在非常小的樣品區域也能產(chǎn)生很高的熒光強度。X射線(xiàn)毛細導管將X射線(xiàn)源的大部分射線(xiàn)收集,并將其聚焦成直徑35微米的一個(gè)X射線(xiàn)點(diǎn)。

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    更新日期:2023-03-20
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  • 精密刻蝕鍍膜系統PECS II 685

    精密刻蝕鍍膜系統PECS II 685,一款桌面型寬束氬離子拋光及鍍膜設備。對于同一個(gè)樣品,可在同一真空環(huán)境下完成拋光及鍍膜。

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    更新日期:2023-03-20
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  • ChromaCL2第二代實(shí)時(shí)彩色陰極發(fā)光成像系統

    ChromaCL2第二代實(shí)時(shí)彩色陰極發(fā)光成像系統,是一款*的產(chǎn)品。它具有高效的光學(xué)采集和色散能力,采用陣列光電倍增管得到高增益光探測能力。通過(guò)DigitalMicrograph軟件實(shí)時(shí)地將光子脈沖信號混合成實(shí)時(shí)彩色陰極發(fā)光圖像。

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    更新日期:2023-03-20
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  • Gatan原位加熱臺Murano 525

    Gatan原位加熱臺Murano 525,精悍緊湊,能方便地與大多數掃描電鏡的標準樣品臺接口,它包含一個(gè)絕熱接口,適用于二次電子像、電子背散射衍射(EBSD)與聚焦離子束(FIB)加工。能夠對大至9mm x 4.5mm x 1.5mm大小的樣品進(jìn)行快速加熱。

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    更新日期:2023-03-20
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  • MICROTEST 2000E系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗臺

    MICROTEST 2000E系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗臺,可以對金屬樣品施加高達2000N的拉力,用戶(hù)EBSD分析,或者對一些其他材料進(jìn)行常規的應力-應變分析和SEM成像。試樣夾具70度角度傾斜,為EBSD分析提供了的設置。

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    更新日期:2023-03-20
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  • MICROTEST系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗臺

    MICROTEST系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗臺,金屬及鍍層:用于研究晶粒變化、鍍層結合情況、高溫形變及松弛機理、晶粒旋轉及織構變化。復合材料:用于研究材料韌性及強度;纖維:研究材料強度

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    更新日期:2023-03-20
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